太陽電池用シリコン(Si)結晶基板は光エネルギーを電気エネルギーに変換するための半導体素子で、現在太陽電池市場で最も高いシェアを占めています。従来、太陽電池用Si結晶基板の出荷・仕入れ検査などでは、主としてSi基板表面の電子の寿命を測定する方法(反射マイクロ波光導電減衰法等)が品質評価法として用いられてきました。しかしその手法では太陽電池のエネルギー変換効率を正確に測定することが難しく、また測定時間も長いため、結果として太陽電池の品質のばらつきや開発効率の低下につながり、大きな課題となっています。
株式会社パンソリューションテクノロジーズでは「HS-CMR法*」という新たな評価手法を用いた新測定装置の製造・販売いたします。本技術は東北大学金属材料研究所の藩伍根博士により開発されました。Si結晶基板のみから太陽電池のエネルギー変換効率を高精度に測定できることが最大の特徴で、測定時間も基板1枚あたり10秒と大幅な時間削減となります。
この度その実用化に成功し、太陽電池製造業界が抱える問題に対して大きな解決策を提供できることとなりました。会社概要等の詳細は添付の資料をご覧ください。
2017年10月27日付けの河北新報、日刊工業新聞に掲載されました。
詳細: プレスリリース本文 [PDF 566KB]
表:従来の太陽電池品質測定法との比較