プレスリリース・研究成果

金属ナノ粒子中の電子スピン寿命の観測に成功

2004/10/29

  金属ナノ粒子中の電子スピンの寿命を、実用に近い素子構造を用いて世界で初めて観測することに成功し、ナノ粒子中での電子スピンがバルクに比べて桁違いに長寿命になることを明らかにした。電子スピンの寿命は、スピンエレクトロニクス素子の性能を決定する最も重要な因子のひとつであり、今回の成果は、金属ナノ粒子の電子スピンをデバイスとして利用するための重要な一歩と位置づけられる。本研究は、科学技術振興機構、東北大学情報科学研究科、(財)電気磁気材料研究所との共同で行われた。成果は、Nature Materials 掲載に先立ち、12月5日付けでオンライン公開され、12月6日付で日刊工業新聞や日経産業新聞でも紹介された。
 
高梨グループ (磁性材料学研究部門)
前川グループ(金属物性論研究部門)